北崎現(xiàn)貨 HIOKI日置 LCR測(cè)試儀儀 IM3536

北崎現(xiàn)貨 HIOKI日置 LCR測(cè)試儀儀 IM3536

● 非常適合對(duì)ECU 等高性能板進(jìn)行多點(diǎn)檢查。 ● 模擬108ch ~ 模擬96ch + 邏輯48ch 輸入 ● 與以前的型號(hào)相比，保存媒體所需的時(shí)間減少到最多 1/100。 ● 20MS/s全通道同時(shí)采樣 ● 所有通道均采用隔離模擬輸入進(jìn)行安全測(cè)量 ● 兼容4K顯示器，顯示多通道波形不重疊 ● 1 個(gè)單元可實(shí)現(xiàn) 4 通道輸入（4 通道模擬單元 U8975、4 通道 DVM 單元 U8991） ● 可生成恒壓、恒流、模擬電阻（VIR生成單元U8794）

非常適合高性能電路板的多點(diǎn)檢查。 模擬最大108ch 模擬+邏輯 最大144ch 信號(hào)產(chǎn)生 最大216ch 單臺(tái)設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)超過三位數(shù)的多通道測(cè)量，并且還可以在4K顯示器上高效顯示。

所有通道均配備A/D轉(zhuǎn)換器，并且測(cè)量時(shí)序同步，因此單元或通道之間的采樣時(shí)間沒有差異。 因此，諸如光標(biāo)測(cè)量和時(shí)間差測(cè)量之類的精確時(shí)間測(cè)量是可能的。

全通道隔離可防止噪聲到達(dá)連接的目標(biāo)，并且不會(huì)因接地電位差異而產(chǎn)生負(fù)面影響。 此外，還可以防止因接線錯(cuò)誤或電路板短路而導(dǎo)致的過壓/過流輸入引起的故障和麻煩。 *僅 8971 和 8973 裝置是非絕緣的。