# 2024年新品發(fā)布會#

日期：2024年9月29日

時間：8：30-18：30

近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)映射涂層測厚儀

映射涂層測厚儀能夠在最大 300 mm 的晶圓的所有表面上自動映射膜厚測量。 自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。 此外，它可以安裝在半導(dǎo)體制造設(shè)備的負載端口，以在保持清潔度的同時管理制造設(shè)備上的薄膜厚度。

1能夠?qū)ψ畲?300 mm 的晶圓的整個表面進行自動涂層厚度映射測量

2自動對位功能

3通過使用具有高平整度的晶圓卡盤，提高晶圓表面的測量可靠性

通過自動檢測缺口和無花柱位置，以及自動檢測晶圓偏心率，實現(xiàn)高精度測量。

4可根據(jù)應(yīng)用選擇三種類型的光源。

5透明蓋，便于在測量過程中查看運動

6一體化節(jié)省空間的設(shè)計